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※ ChatGPTを利用し、要約された質問です(原文:【半導体素子】アナログCMOSのデバイス測定項目)
【半導体素子】アナログCMOSのデバイス測定項目について
2023/10/19 20:23
このQ&Aのポイント
- アナログCMOSのデバイス測定項目やその詳細について知りたい
- アナログ回路で使用されるCMOSの測定項目とその内容について教えてください
- VthやIds、Cut-off、各種電流、耐圧以外にもアナログCMOSの測定項目はあるのか
※ 以下は、質問の原文です
【半導体素子】アナログCMOSのデバイス測定項目
2018/06/23 12:05
【半導体素子】アナログCMOSのデバイス測定項目について教えてください。
通常のCMOSですと、VthやIds、Cut-offや各種電流、耐圧等を測定すると思います。
アナログ回路で使うCMOSの場合ですと、測定項目はどのようなものがあり、
またその内容について、
詳細(どういう現象を見ているか)等教えて頂けないでしょうか?
よろしくお願いいたします。
質問者が選んだベストアンサー
回答(1)再出
OP-AMPであれば、次のような項目でしょう。
OP-AMPのデータシートを参照して下さい。
最大定格項目:
・電源電圧定格
・消費電力定格(温度ディレ-ティング特性)
・出力電流定格(温度ディレ-ティング特性)
・温度定格
・はんだ付け条件 など
特性項目:
・ゲイン及び位相回転(の周波数特性)
・同相除去比(の周波数特性)
・オフセット電圧(の温度特性)
・バイアス電流(の温度特性)
・入力換算ノイズ電圧(ノイズ電流)(の周波数特性)
・スルーレート
・電源変動の除去比(の周波数特性)
・消費電力(又は消費電流) など
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お礼
2018/07/15 12:39
ご丁寧に解説ありがとうございます。
大変勉強になりました。