表面処理・蛍光X線の結果から考えられる表面処理方法とは？

中々使用目的等が公表できないと考えますが、お金を掛けても良いなら、住化分析センタ

等の専門へ分析を依頼し、コメント付きの評価書を受け取り、解決なさったら如何でしょうか？

まず、一般論として
蛍光X線は基本的に試料が均一と仮定して測定していることが多いと思います。
このため、厚さ不明メッキの場合メッキが下地の蛍光X線に対するフィルターとして働き、測定結果がおかしく感じられることはあり得ます。

ただし、今回の結果を見る限りFeよりNiが多いというものですがCrの場合、Niの蛍光X線の方が減衰させるため、Niが多く含まれるのは確実とみても良いと思います。

この場合、皮膜を電解処理や化学処理で除去しつつ測定を繰り返すというのが出来ればより多くの情報を得ることが出来ますが条件だし等が難しいのが難点です。

一応、Crメッキの場合下地にNiメッキを施すこともある様なのでそのせいかもしれません。

ただMnの検出も有るので基材が本当にSUS304かは確認が必要と思います。
(メッキの添加剤の可能性も無きにしもあらず)

あと、基本的に使用した機種名または励起X線源の種類及び１次フィルターの情報が必要です。

蛇足
蛍光X線の場合、酸素は検出不能です。(軟X線の為、雰囲気での減衰が激しい＋オージェ電子になる確率が高いため)
また、励起X線の入射角を変えて測定すれば深さ方向の分布測定は原理状は可能ですが、そういった機構を持つ蛍光X線分析機は殆ど無いです。

分析値ではFeよりもCr,Niの方が高いのだから、SUS304その物の分析値ではない。裏面を分析してみれば判る。

被膜のCr量が高いことは間違えないが、Mn,Al,Si,Sも検出されているので被膜その物の分析値でもない。酸化膜とすると酸素の分析値がない。

問題は、回答(3)にあるように「分析深さ」と「被膜厚み」の関係。まず断面を観察して膜の厚さを確認し、適切な分析方法・条件を検討することが必要。

被膜を通して基材の元素も検出している場合、元素ごとの特性X線の強度の違いにより被膜を透過する挙動が異なるので、基材組成の分析値が異なってくる。結果として被膜の正しい分析値も得られない。

蛍光X線は使ったことが無いので判らないが、分析深さを調整することはできないのだろうか。それができないのなら、少しずつ研磨しながら何度も分析し、被膜の正しい分析値を推定する。

SEM-EDSならば深さ1μ程度で分析できる。EPMAならばもう少し深くて数μになる。

回答(2)さんのご指摘のとおり、分析結果は、表面処理部分のではなく、
下地のSUS304の組成が現れたものと思います。
ご参考に、蛍光X線分析の概要が記載された資料を貼っておきます。
分析深さは数10μmのオーダーなので、一般的な塗装の被膜であっても
下地の成分が検出されると思います。

分析結果はSUS304そのものと思うが
不明な表面処理・・・してるのでしょうか？　リバースエンジニアリンク？

色だけなら何も加えず酸化膜を形成する発色処理

　　http://www.nakano-acl.co.jp/hassyoku/

http://www.rigaku.co.jp/rs/technology/index.html
蛍光X線分析では・・・・
Si, S　は薄膜に含まれていなくても大気中から、またNa, Cl などは人の手で触れることによる汚染から検出される場合があります。その他、分析装置の型式によりFe, Ni,Cu, Rh（X線管ターゲット材）など分析装置からの不純線がありますので注意して下さい。

結果は鵜呑みにできませんよ。　Na？はて？　と問合せ経験有
対照用の試料を併せて分析すべき。