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フィルムコンデンサの誘電正接の変化について
2023/10/19 03:42
- 某社のフィルムコンデンサの評価で、誘電正接(tanδ)の値が変化しています。
- 誘電正接の値の変化は、絶縁抵抗測定（印加電圧500V）の前後で起こります。
- 変化のメカニズムについて教えてください。
誘電正接の変化
2013/10/03 08:13
某社のフィルムコンデンサの採用を考えています。
その評価の中で誘電正接(tanδ)の値が絶縁抵抗測定（印加電圧500V）前後で変化しています。
誘電正接が変化するメカニズムについてご教示ください。
回答 （4件中 1～4件目)
専門家ではありませんが、多分含水率とかが影響してるのでは、
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自己回復性のあるフィルムコンデンサを
定格耐圧以上になる条件で使用したとかじゃありませんよね？
回答ではなくて申し訳ありませんが、
ご検討中の某社製ではない他社製のコンデンサでも同様の変化がみられる
でしょうか？
絶縁抵抗を測定した際の直流電圧は、完全に放電させた状態でtanδを
測っているでしょうか？
tanδを測る周波数はどれほどでしょうか？
前のご質問を拝見すると、コンデンサ製造がご商売のようですので、
ご質問者さんの方が専門家と思いますが、tanδの変化が起こるコンデンサは
巻締めが甘いようなことはありませんか？
機械的に圧迫して容量、tanδが変化するか、熱サイクルを加えたら変化する
かなど、外部から何らかのストレスを加えて挙動を観察すれば、糸口が
見つかりそうに思います。
tanδは温度で変化します。データでは＠20℃を明記。
発熱が触感しにくい10℃の変化でもtanδ測定値は変わるからと思います。
http://www.rubycon.co.jp/products/film/technote_pdf/filmcapacitor1.pdf
2）誘電正接－ 温度特性 一番悪いＰＥＴが使われる
http://www.ms1.mctv.ne.jp/sifoen.project/PARTS/Parts-Doc/12%20how%20to%20use%20film%20capacitors.pdf
誘電正接変化
